我們的測試旨在測試該產(chǎn)品長時間內(nèi)的一個性能表現(xiàn)。很多測試模型會標(biāo)識測試項的峰值和平均值。這些平均值給了一個基本的性能指標(biāo)(只是這個指標(biāo)不能特別精確的描述SSD的性能)。

當(dāng)產(chǎn)品負(fù)載較低時，所有存儲方案的性能表現(xiàn)也各有不同，平均值結(jié)果也不能很好的描述SSD在實際應(yīng)用中能夠達(dá)到的性能(因為產(chǎn)品始終能夠及時的響應(yīng)IO 請求，所以性能指標(biāo)不會有太多波動)，所以控制負(fù)載量非常重要，當(dāng)負(fù)載過高時，則會造成大量應(yīng)用被掛起。而應(yīng)用負(fù)載的高低可以區(qū)分該應(yīng)用是否屬于企業(yè)級。

測試將提供正在進(jìn)行的測試數(shù)據(jù)(時間間隔為1秒)并通過圖形的方式展現(xiàn)測試結(jié)果。散點表格可以幫助讀者理解IO延遲水平(單純的數(shù)據(jù)表很難做到這點)。除了延遲，測試結(jié)果還會包括IOPS和帶寬等。

本測試符合SNIA 的測試標(biāo)準(zhǔn)，測試環(huán)境為基于主流應(yīng)用環(huán)境的多線程負(fù)載。我們測試了1.2TB Memblaze PBlaze3L(可用空間為80%，高性能模式)，并選用了全盤編址的方法。一塊參與測試的還有1.6TB的英特爾DC P3700和1.4TB的美光P420m以及2.2TB的HGST FlashMAX II。