英特爾代工已經(jīng)探索出數(shù)條路徑,以解決采用銅材料的晶體管在開發(fā)未來制程節(jié)點時可預(yù)見的互連微縮限制,改進現(xiàn)有封裝技術(shù),并繼續(xù)為GAA及其它相關(guān)技術(shù)定義和規(guī)劃晶體管路線圖:

在300毫米GaN(氮化鎵)技術(shù)方面,英特爾代工也在繼續(xù)推進其開拓性的研究。GaN是一種新興的用于功率器件和射頻(RF)器件的材料,相較于硅,它的性能更強,也能承受更高的電壓和溫度。在300毫米GaN-on-TRSOI(富陷阱絕緣體上硅)襯底(substrate)上,英特爾代工制造了業(yè)界領(lǐng)先的高性能微縮增強型GaN MOSHEMT(金屬氧化物半導(dǎo)體高電子遷移率晶體管)。GaN-on-TRSOI等工藝上較為先進的襯底,可以通過減少信號損失,提高信號線性度和基于襯底背部處理的先進集成方案,為功率器件和射頻器件等應(yīng)用帶來更強的性能。

此外,在IEDM 2024上,英特爾代工還分享了對先進封裝和晶體管微縮技術(shù)未來發(fā)展的愿景,以滿足包括AI在內(nèi)的各類應(yīng)用需求,以下三個關(guān)鍵的創(chuàng)新著力點將有助于AI在未來十年朝著能效更高的方向發(fā)展:

同時,英特爾代工還發(fā)出了行動號召,開發(fā)關(guān)鍵性和突破性的創(chuàng)新,持續(xù)推進晶體管微縮,推動實現(xiàn)“萬億晶體管時代”。英特爾代工概述了對能夠在超低電壓(低于300毫伏)下運行的晶體管的研發(fā),將如何有助于解決日益嚴(yán)重的熱瓶頸,并大幅改善功耗和散熱。


[1] 技術(shù)論文《利用空氣間隙的減成法釕互連技術(shù)》,作者:Ananya Dutta、Askhit Peer、Christopher Jezewski

[2] 技術(shù)論文《選擇性層轉(zhuǎn)移:業(yè)界領(lǐng)先的異構(gòu)集成技術(shù)》(作者:Adel Elsherbini、Tushar Talukdar、Thomas Sounart)

[3] 技術(shù)論文《利用空氣間隙的減成法釕互連技術(shù)》,作者:Ananya Dutta、Askhit Peer、Christopher Jezewski

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lixiangjing

算力豹主編

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