由于磁盤陣列系統(tǒng)的組成是集合數(shù)個(gè)原件,如控制器,硬盤,電源供應(yīng)器,電路板,硬盤抽架及系統(tǒng)外殼等.眾多電子零部件所產(chǎn)生的熱量是設(shè)計(jì)中不能忽視的重要課題.良好的散熱設(shè)計(jì)能迅速導(dǎo)熱及散熱,排出過(guò)多熱能,達(dá)到系統(tǒng)最佳穩(wěn)定狀態(tài).
  
    Infortrend采用全球熱門FLOTHERM電子熱能分析儀軟件,分析評(píng)估散熱效率,用以減少時(shí)間耗費(fèi)并取得實(shí)質(zhì)溫度驗(yàn)證結(jié)果.依照實(shí)驗(yàn)室采用高標(biāo)準(zhǔn)的環(huán)境溫度高達(dá)攝氏40度(40’C)下,進(jìn)行熱能分析驗(yàn)證,以達(dá)到系統(tǒng)均勻散熱的考驗(yàn).基于這些嚴(yán)苛條件,Infortrend不斷從理論及實(shí)驗(yàn)的經(jīng)驗(yàn)中,設(shè)計(jì)最佳化的熱能解決方案.
  
    我們可以下方圖例了解,如何充分運(yùn)用空間,由進(jìn)氣風(fēng)向順利引導(dǎo)到熱源區(qū)域,再將熱能排到出口 ,達(dá)到最佳散熱效率.
  <圖一>
  
  
  
    同時(shí)搭配熱傳導(dǎo)性效率極高的散熱片以及可靠的冷卻風(fēng)扇 (如下圖),創(chuàng)造與設(shè)計(jì)出散熱最佳效用.唯有設(shè)計(jì)精良的高效能散熱系統(tǒng),才能確保磁盤陣列系統(tǒng)永遠(yuǎn)保持運(yùn)轉(zhuǎn)在最佳散熱效率.
  
  
  
    溫度測(cè)試的條件是以周圍環(huán)境的高或低溫變化如下圖樣品,來(lái)進(jìn)行磁盤陣列系統(tǒng)內(nèi)部各個(gè)發(fā)熱零部件的溫度測(cè)試.由實(shí)際測(cè)試所得到的結(jié)果我們才能證明進(jìn)氣風(fēng)向是否順利引導(dǎo)到熱源區(qū)域,再將熱能排出 .舉例來(lái)說(shuō)，CPU、集成電路芯片或硬盤等是達(dá)到最佳散熱效率,并保證維持在正常工作溫度范圍以內(nèi)

  
    Infortrend的磁盤陣列系統(tǒng)都在嚴(yán)苛溫度驗(yàn)證下,確保提供最高散熱效能系統(tǒng),長(zhǎng)時(shí)間驗(yàn)證永不停機(jī)..
  
  
    振動(dòng)測(cè)試 (Vibration test) 

    為了確保客戶收到磁盤陣列系統(tǒng)后能夠順利進(jìn)行安裝,測(cè)試及上線運(yùn)轉(zhuǎn)使用.產(chǎn)品出貨運(yùn)輸途中或上線運(yùn)轉(zhuǎn)后,振動(dòng)環(huán)境測(cè)試是驗(yàn)證磁盤陣列系統(tǒng)可靠度的重要一環(huán).
  
    磁盤陣列系統(tǒng),經(jīng)由實(shí)驗(yàn)室做程序化連續(xù)振動(dòng)仿真,驗(yàn)證系統(tǒng)在工作周期,或包裝后運(yùn)送周期是否正常.Infortrend采用知名驗(yàn)證機(jī)構(gòu),將測(cè)試結(jié)果導(dǎo)入設(shè)計(jì),確保磁盤陣列系統(tǒng)設(shè)計(jì)與功能達(dá)到標(biāo)準(zhǔn).
  
    驗(yàn)證程序的設(shè)定,需依據(jù)業(yè)界規(guī)定項(xiàng)目并以實(shí)際制品為準(zhǔn).依據(jù)規(guī)格書中所明定執(zhí)行的試驗(yàn)加速度,試驗(yàn)軸向 (如下圖),試驗(yàn)時(shí)間,試驗(yàn)嚴(yán)厲度 … 等等相關(guān)條件進(jìn)行審查測(cè)試.
  <圖一>

  
  
    振動(dòng)試驗(yàn)條件有包含設(shè)計(jì)階段的正弦波(Sine Wave)測(cè)試,或隨機(jī)波(Random Wave)測(cè)試,它以不同的測(cè)試頻率,時(shí)間設(shè)定,依其類別做各個(gè)軸向振動(dòng)試驗(yàn),下圖舉其中一種隨機(jī)波的振動(dòng)試驗(yàn)條件.
  
  <圖例>
  
  
    完成振動(dòng)試驗(yàn)測(cè)試后的磁盤陣列系統(tǒng),需檢查結(jié)果.
   (1) 測(cè)試后必須符合其性能或功能檢查
   (2) 測(cè)試后內(nèi)部構(gòu)造不得變形,受損,或脫落.
   (3) 測(cè)試后其外觀及其附件不得變形,受損.
  
      Infortrend的磁盤陣列系統(tǒng)已在一連串振動(dòng)仿真測(cè)試下成為高水盤陣產(chǎn)品的代表.
  
     沖擊 (Shock) 及 落下 (Drop) 測(cè)試

    安裝磁盤陣列系統(tǒng)到機(jī)柜(Cabinet or Rack)上時(shí),操作人員可能會(huì)造成系統(tǒng)與機(jī)柜間的碰撞或沖擊,或在搬運(yùn)過(guò)程中發(fā)生碰撞或沖擊. 磁盤陣列系統(tǒng)的沖擊 (Shock) 測(cè)試主要以系統(tǒng)可能遭遇的沖擊效應(yīng),用以分析系統(tǒng)承受外力的重要能力.
  
    沖擊測(cè)試的試驗(yàn)需進(jìn)行各+X,+Y,+Z,-X,-Y,-Z軸向的時(shí)間測(cè)試,做如下條件試驗(yàn).
    半正弦波 (halfSine Wave)試驗(yàn),用以測(cè)試磁盤陣列外觀的強(qiáng)度.
    高加速?zèng)_擊試驗(yàn),用以測(cè)試磁盤陣列的脆性材料的承受度.
    方波 (Square Wave) 試驗(yàn),用以測(cè)試磁盤陣列的整體結(jié)構(gòu)強(qiáng)度.
    鋸齒波(Sawtooth Wave) 試驗(yàn),用以增強(qiáng)上述測(cè)試的條件.
  
    落下 (Drop) 測(cè)試是針對(duì)包裝完成的磁盤陣列系統(tǒng)產(chǎn)品,藉由良好的包裝材料與設(shè)計(jì),確保系統(tǒng)的保護(hù)能力,防振與系統(tǒng)本身的抗跌程序達(dá)到最佳強(qiáng)度.試驗(yàn)時(shí)需進(jìn)行包裝箱各脆弱角(Corner)以及各個(gè)表面做上面,下面,左面,右面,前面,后面等落下測(cè)試,以確保磁盤陣列系統(tǒng)功能正常與外觀無(wú)損壞.
  
  
    Infortrend的磁盤陣列系統(tǒng)除了仿真測(cè)試外，還導(dǎo)入了沖擊及落下的實(shí)際產(chǎn)品破壞性試驗(yàn),從而設(shè)計(jì)出了卓越的機(jī)構(gòu)與外觀包裝，使之能夠達(dá)到最高的強(qiáng)度，順利通過(guò)所有測(cè)試.
  
    電磁波與安全商標(biāo)認(rèn)證 

    全世界各國(guó)科技文化及習(xí)慣的不同,各國(guó)之間的差異也非常大,都反映在其工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)及法律條文上, 電磁波與安全標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證是決定磁盤陣列系統(tǒng)是否可靠的重要項(xiàng)目.全球企業(yè)都在追求嚴(yán)苛質(zhì)量之際,磁盤陣列系統(tǒng)的安全標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證是產(chǎn)品進(jìn)軍國(guó)際市場(chǎng)的必要測(cè)試項(xiàng)目.
  
    磁盤陣列系統(tǒng)的個(gè)項(xiàng)認(rèn)證其方法的主要的用意在于確保:
  
   產(chǎn)品必須不危及消費(fèi)者及環(huán)境,不妨礙健康,才可以在市場(chǎng)上流通.
   符合標(biāo)準(zhǔn)的合法上市的產(chǎn)品,可在其國(guó)家銷售,或其它同盟會(huì)員國(guó)銷售。
  
  
    Infortrend磁盤陣列經(jīng)由最嚴(yán)苛質(zhì)量管控,無(wú)論是溫度,振動(dòng),沖擊及落下測(cè)試,電磁波與安全商標(biāo)認(rèn)證,擁有可靠的MTBF (Mean Time Between Failures) 測(cè)試能力,并通過(guò)上萬(wàn)項(xiàng)軟硬件測(cè)試項(xiàng)目,可確保提供給您全系列的世界級(jí)質(zhì)量,最穩(wěn)定的磁盤陣列系統(tǒng)產(chǎn)品.
  
  

多易